本文671字，阅读约需2分钟
摘 要：开发了一种无需将样品暴露在大气中即可将其运送到透射电子显微镜（TEM）上、用于加热原位观察的TEM样品架，并成功地在三个维度上捕获了平均粒径为150nm的铜纳米颗粒的烧结过程。
关键词：纳米颗粒、烧结、四维测量、电子束剂量、噪声处理
要点
•对材料开发和稳定性评估所需的材料纳米结构热激活过程进行了可视化
•首次实现了粉末烧结过程的纳米级四维（三维空间+时间）测量
•通过促进基于实测的制造业的DX化，有望大幅降低开发成本
使用透射电子显微镜首次对纳米颗粒烧结进行四维测量
表情
Ctrl + Enter