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摘 要:本研究展示了一种使用新开发的CVD绝缘膜将芯片临时键合到晶圆上的方法,临时键合通过等离子体激活的直接键合完成,是一种新型垂直布线形成技术和芯片集成技术,可以实现Die-to-Wafer(裸晶到晶圆)的“混合键合”,并且可以减少因临时键合而产生的材料加工时间,减少材料损耗以及降低成本。
关键词:半导体、后道工序、晶圆、芯片集成、临时键合、CVD绝缘膜
日本横滨国立大学、株式会社DISCO、东丽工程株式会社利用直接键合技术,成功开发出一种新型芯片临时键合和分离技术。
“芯粒(Chiplet)集成”作为一种突破半导体器件的小型化极限,追求更高性能和更低功耗的技术而备受关注。但是,将芯片键合到晶圆上并确保垂直电连接的键合/布线技术仍然存在问题,需要新型键合和集成方法。
本研究展示了一种使用新开发的CVD绝缘膜将芯片临时键合到晶圆上的方法。在这种方法中,临时键合是通过等离子体激活的直接键合完成的。
因此,临时键合界面与大多数前道工序兼容,据称这是一种有望扩展的集成技术,例如使用先进的晶圆厂技术进一步小型化。
此外,由于界面层薄且坚固,因此可以降低键合过程中芯片移位的风险。据称,这是一种新型垂直布线形成技术和芯片集成技术,可以实现Die-to-Wafer(裸晶到晶圆)的“混合键合”,并且可以减少因临时键合而产生的材料加工时间,减少材料损耗以及降低成本。
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