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摘 要：产综研通过统计实验评估了许多晶体管在极低温度下的噪声产生现象，研究发现，伴随原子尺寸缺陷而产生的微小原子位置的位移，是在极低温度下工作的晶体管产生噪声的原因。
关键词：量子计算机、量子位控制、集成电路、噪声源、晶体管
日本产业技术综合研究所（产综研）宣布，对于在极低温度下工作的用于量子位控制的集成电路，其已经找到了其中产生噪声的原因。
为了增加量子位数量以提高量子计算机的性能，需要将用于控制大量量子位的控制功能集成到电路中，并在极低温度下运行它们。同样，为了增加单次处理中可执行的运算次数，就需要延长相干时间，即量子信息的保留时间。然而，由于相干时间会因电子噪声而劣化，因此除了减少量子位中产生的噪声外，还需要减少控制用集成电路中产生的噪声。
为了实现这些目的，需要降低在极低温度下工作的晶体管的噪声，但人们迄今为止还不了解噪声产生的机制。
本研究中，产综研通过统计实验评估了许多晶体管在极低温度下的噪声产生现象。研究发现，伴随原子尺寸缺陷而产生的微小原子位置的位移，是在极低温度下工作的晶体管产生噪声的原因。